材料測(cè)試平臺(tái)
納米粒度與Zeta電位分析儀
發(fā)布日期:2022-09-26
點(diǎn)擊量:
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品牌 |
microtrac |
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型號(hào) |
nanotrac wave II |
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放置地點(diǎn) |
德勝樓906 |
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負(fù)責(zé)人 |
陳靜/楊霞 |
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聯(lián)系方式 |
13699738965/15892603910 |
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使用方式 |
培訓(xùn)預(yù)約使用 |
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主要技術(shù)指標(biāo) |
1. 粒徑測(cè)量系統(tǒng) 粒徑測(cè)量范圍:0.3nm-10um;檢測(cè)角度:180º;樣品濃度范圍:0.1ppm - 40% (Vol); Zeta電位測(cè)量系統(tǒng) 2.電位測(cè)量范圍:-200mV - +200mV;濃度范圍:0.1ppm - 40%(Wt);分子量測(cè)量范圍:300-2×107Da。 |
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研究領(lǐng)域 |
納米級(jí)、亞微米級(jí)固體顆粒與乳液。 |
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測(cè)試內(nèi)容 |
用于測(cè)量顆粒粒度及分子大小、分子量、蛋白質(zhì)電泳遷移率、膠體與納米顆粒的ZETA電位。 |
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管理辦法 |
□有 □無(wú) |
委托測(cè)試單 |
□有 □無(wú) |
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儀器狀態(tài) |
正常 |
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